Solkoblingsboksen fungerer sammen med komponenterne, solkoblingsboks, som kræver stærk tilpasningsevne til miljøet. Med hensyn til temperatur er den nuværende standard -40 ℃ ~ 85 ℃. Diodens forbindelsestemperatur påvirker lækstrømmen i slukket tilstand. Generelt vil solkoblingsboksen lækstrømmen fordobles for hver ti grad af temperaturstigning. Derfor er solkoblingsboks det nødvendigt, at dioden' s nominelle krydsetemperatur er højere end den faktiske forbindelsestemperatur under brug. For eksempel 2AP1 type germaniumdiode, solkoblingsboks, hvis omvendt strøm er 250uA ved 25, temperaturen vil stige til 35, omvendt strøm vil stige til 500uA, og så videre, solkoblingsboks ved 75, dens omvendte strøm har nået 8mA, solkoblingsboks ikke kun tabt Den ensrettet ledningsevne får røret til at blive overophedet og beskadige det.
Den aktuelle forbindelsestemperatur kan måles ved hjælp af følgende metode: sæt komponenten i en 75 graders ovn, indtil den er termisk stabil, solkoblingsboksen passerer komponentens faktiske kortslutningsstrøm i dioden, solkoblingsboksen og måler overfladen diodens temperatur efter termisk stabilitet (for eksempel 1 time) ifølge følgende formel Beregn den aktuelle forbindelsestemperatur: Tj=Tcase + R * U * I, solkoblingsboks, hvor R er den termiske modstandskoefficient, givet af diodeproducenten, er Tcase overfladetemperaturen på dioden (målt med et termoelement), solkoblingsboksen og U er spændingsfaldet over dioden (målt værdi), I er komponentens kortslutningsstrøm. Den beregnede Tj kan ikke overstige krydsetemperaturområdet på diodebladet.
Metoden til at teste, om diodens forbindelsestemperatur er kvalificeret eller ej, er som følger: hele komponenten opvarmes til 75 ° C, solkoblingsboks og efter omvendt strøm af Isc anvendes i 1 time, solkoblingsboks temperaturen på måle bypass-dioden skal være lavere end dens maksimale driftstemperatur. Forøg derefter den indgående omvendte strøm til 1,25 gange Isc i 1 time, solkoblingsboks og bypass-dioden bør ikke svigte.